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ターゲットを見失わない! 
割れや剥がれのない高精度な平滑面を作製

SEM、光学顕微鏡、TEM観察用の試料製作。
切断・研磨中にターゲットの場所を見失ったり、もろい材料で割れたり、
はがれたり、うまく切断できないなど、お困りではありませんか。

ライカ EM TXPは、目的個所の見失いを最小に抑え、プラスティック、金属からガラス、シリコン、セラミックス等のもろい試料まで、複合試料の断面作製が可能。割れや剥がれのない高精度平滑面を作製できます。あったらいいのに、を実現するライカソリューション。ぜひクオリティをお試しください。評価用にサンプル試料作製も承ります!

お気軽にお問い合わせください

ターゲット(目的個所)を見失いません:

試料の切断、研削、研磨中、実体顕微鏡で仕上がり具合を随時、観察できます。試料をTXPから取り外すことなく、アーム角度を変えても視野ずれなく、快適に加工工程を進めることができます

 
脆い材料を含む複合試料にも:

研磨加工に不向きであった、セラミックスやシリコンなど硬く、脆い材料の試料作製も、最適です

 
ウルトラミクロトームの試料ホルダに取り付けたまま:

試料ホルダーは、標準品から厚さ3mm~8mmの試料を挟めるもの、AFM用、各社電顕メーカー用など多彩にラインナップ

 
短時間でターゲットの断面作製:

送り、回転数設定など、自動処理が可能で、短時間でどなたでも作業が可能です。

   

 

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