Science Lab
製品情報
ターゲットを見失わない！
割れや剥がれのない高精度な平滑面を作製
SEM、光学顕微鏡、TEM観察用の試料製作。
切断・研磨中にターゲットの場所を見失ったり、もろい材料で割れたり、
はがれたり、うまく切断できないなど、お困りではありませんか。
ライカ EM TXPは、目的個所の見失いを最小に抑え、プラスティック、金属からガラス、シリコン、セラミックス等のもろい試料まで、複合試料の断面作製が可能。割れや剥がれのない高精度平滑面を作製できます。あったらいいのに、を実現するライカソリューション。ぜひクオリティをお試しください。
評価用にサンプル試料作製も承ります！
| ターゲット（目的個所）を見失いません：
試料の切断、研削、研磨中、実体顕微鏡で仕上がり具合を随時、観察できます。試料をTXPから取り外すことなく、アーム角度を変えても視野ずれなく、快適に加工工程を進めることができます |
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| 脆い材料を含む複合試料にも：
研磨加工に不向きであった、セラミックスやシリコンなど硬く、脆い材料の試料作製も、最適です |
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| ウルトラミクロトームの試料ホルダに取り付けたまま：
試料ホルダーは、標準品から厚さ3mm～8mmの試料を挟めるもの、AFM用、各社電顕メーカー用など多彩にラインナップ |
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| 短時間でターゲットの断面作製：
送り、回転数設定など、自動処理が可能で、短時間でどなたでも作業が可能です。 |
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