
ライカマイクロシステムズでは、クライオSEM・TEM法の基礎やアレイトモグラフィー向け連続切片作製など、
毎回さまざまなテーマで、実習を交えたワークショップを開催しています。
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WORKSHOP INFOMATION
2020年10月8日(木)、9日(金)
【透過電子顕微鏡・走査電子顕微鏡をはじめ幅広い分野で定評の、Leica社の各種電子顕微鏡前処理装置システムをご紹介するオンラインセミナーのシリーズです。】
2020年9月17日(木)、18日(金)
【透過電子顕微鏡・走査電子顕微鏡をはじめ幅広い分野で定評の、Leica社の各種電子顕微鏡前処理装置システムをご紹介するオンラインセミナーのシリーズです。】
2020年8月25日(火)、26日(水)
透過電子顕微鏡・走査電子顕微鏡をはじめ幅広い分野で定評の、Leica社の各種電子顕微鏡前処理装置システムをご紹介するオンラインセミナーのシリーズです。
●THUNDER EM Cryo CLEM のご紹介
第一弾は、クライオTEM法 、クライオ電子線トモグラフィー、その前処理のCryo FIB SEM法 のための観察・検索・相関に最適化した最新クライオ蛍光顕微鏡システムです。再現性良くハイスループットとご好評いただいている従来機に寄せられた様々なリクエストを盛り込み、さらに、各種光学顕微鏡で大変ご好評いただいているTHUNDERイメージャーの技術を搭載しリニューアルしました!
THUNDERイメージャーとは、Computational Clearing と呼ばれる新しいオプトデジタル方式により、蛍光ボケを徹底排除しハイスループットに超高精細蛍光イメージングする次世代型蛍光顕微鏡です。用途に合わせて幅広いラインナップのTHUNDERイメージャーファミリーの中で、「THUNDER EM Cryo CLEM」は、Leicaの電顕前処理で培ったクライオ技術を融合した最もユニークな1機種になります!
https://www.leica-microsystems.com/jp/%E8%A3%BD%E5%93%81%E7%B4%B9%E4%BB%8B/thunder-imaging-systems/
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USER VOICES
尿細管細胞内のミトコンドリアリソソームに興味があり、立体構造が見られれば面白いと思っております。連続切片の作り方だけでなく、ガラスナイフや、エポン削りのところから解説していただけたので、期待以上の収穫でした。
粒度分布計や、一般的なTEMの前処理では判別できないような粒子の分散、凝集状態を観察することが出来るのではないかと思い参加しました。実際の手順や観察手法を見ることができて、どのような手段がどんなサンプルに適しているかを判断する手がかりとなり、勉強になりました。多くの意見を聞くことができ、分かりやすかった。
クライオSEMに必要な機器や具体的手法、どんな画像が得られ、そこからどんな情報が得られるのかが知りたかったので参加しました。一連の実験フローを見ることができ、イメージがわきやすかったです。今後検討すべき内容が明確になりました。
クライオSEM観察や試料の前処理方法の参考にさせていただきたく参加致しました。実際にクライオSEMを使用したり、エッチングもリアルに観ることができて期待以上でした。
今後の創薬研究への応用方法について、ヒントを見つけたい、考えたいと思い、実際のクライオSEM技術を見学し、操作方法を学ぶために参加しました。とても分かりやすくご教授いただきましたので、非常に参考になったと共に、勉強不足を痛感致しました。
今まで、マクロ情報から想像するしかなかった食品中の構造的特性を見える化してみたいと思っていました。構造情報を基に、製品開発の指標や品質管理に活用したい。電子顕微鏡の使用自体が初めてでしたが、一連の操作を見ることが出来て大きな収穫となりました。
HIGHLY EXPERIENCED APPLICATION SUPPORT SPECIALIST
ワークショップ中は、経験豊富な講師陣がしっかりとサポート致します。
これから電子顕微鏡観察を始めたい方も、スキルアップを目指している方も、
生物系・材料系のお仕事で電子顕微鏡試料を取り扱うことがある方全員におすすめのワークショップです。
自分では「見えている」と思っていたものが、なんと過剰なエッチング等によるアーティファクトも含むものだったということが判明しました。ライカの専任スタッフの方に指摘されて初めて気がついたんです。知識を身につけ根気よく挑戦し続けることで、感動的な成果を得ることが出来ました。ライカのみなさまには、時には厳しくも的確なアドバイスをいただきつつ、これからも私たちの研究をサポートしていただきたいと思います。
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ウルトラミクロトーム & クライオウルトラミクロトーム
高品質な準超薄切片、超薄切片、および試料断面を作製します。
SEM、TEM、Cryo (FIB) SEM、Cryo TEM、AFM、光学顕微鏡
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※SEM:走査電子顕微鏡法、TEM:透過電子顕微鏡法、Cryo (FIB) SEM法:クライオ走査電子顕微鏡、Cryo TEM:クライオ透過電子顕微鏡法、AFM法:原子間力顕微鏡法