電顕観察のクオリティアップに！
電顕試料作製ワークショップ

EM Sample Preparation Workshop

ワークショップ紹介

WORKSHOP INFOMATION

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    2025年1月28日（火）~1月29日（水）

    2024年度（令和6年度）第28回ABiS電子顕微鏡トレーニング「SEM Array Stacking・General Course」

    本トレーニングでは、SEM Array Stacking（SEM Array Tomography）のための連続リボン状超薄切片作製から、SEMを用いた連続切片の画像取得、および三次元構造の再構成法までを取り扱います。

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    2024年11月26日（火）~11月27日（水）

    2024年度（令和6年度）第27回ABiS電子顕微鏡トレーニング 「クライオ試料作製・観察 ～クライオSEMによる含水試料の観察～」

    今回のトレーニングでは、含水・液体試料の、①高圧凍結、②凍結割断、③凍結切削（面出し）、④クライオ・コーティング、および ⑤クライオSEM観察の各工程を、クライオトランスファー装置でリンクさせた “クライオSEMシステム” の実習を中心に行います。

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    2024年9月25日（水）~26日（木）

    2024年度（令和6年度）第26回ABiS電子顕微鏡トレーニング「SEM Array Stacking・Advanced Course」

    本トレーニングでは、SEM Array Stacking（SEM Array Tomography）のための連続リボン状超薄切片作製から、SEMを用いた連続切片の画像取得、および三次元構造の再構成法までを取り扱います。

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ワークショップにご参加くださった皆様の声

USER VOICES

  • 尿細管細胞内のミトコンドリアリソソームに興味があり、立体構造が見られれば面白いと思っております。連続切片の作り方だけでなく、ガラスナイフや、エポン削りのところから解説していただけたので、期待以上の収穫でした。

  • 粒度分布計や、一般的なTEMの前処理では判別できないような粒子の分散、凝集状態を観察することが出来るのではないかと思い参加しました。実際の手順や観察手法を見ることができて、どのような手段がどんなサンプルに適しているかを判断する手がかりとなり、勉強になりました。多くの意見を聞くことができ、分かりやすかった。

  • クライオSEMに必要な機器や具体的手法、どんな画像が得られ、そこからどんな情報が得られるのかが知りたかったので参加しました。一連の実験フローを見ることができ、イメージがわきやすかったです。今後検討すべき内容が明確になりました。

  • クライオSEM観察や試料の前処理方法の参考にさせていただきたく参加致しました。実際にクライオSEMを使用したり、エッチングもリアルに観ることができて期待以上でした。

  • 今後の創薬研究への応用方法について、ヒントを見つけたい、考えたいと思い、実際のクライオSEM技術を見学し、操作方法を学ぶために参加しました。とても分かりやすくご教授いただきましたので、非常に参考になったと共に、勉強不足を痛感致しました。

  • 今まで、マクロ情報から想像するしかなかった食品中の構造的特性を見える化してみたいと思っていました。構造情報を基に、製品開発の指標や品質管理に活用したい。電子顕微鏡の使用自体が初めてでしたが、一連の操作を見ることが出来て大きな収穫となりました。

経験豊富な講師陣

HIGHLY EXPERIENCED APPLICATION SUPPORT SPECIALIST

ワークショップ中は、経験豊富な講師陣がしっかりとサポート致します。
これから電子顕微鏡観察を始めたい方も、スキルアップを目指している方も、
生物系・材料系のお仕事で電子顕微鏡試料を取り扱うことがある方全員におすすめのワークショップです。

トレーニング講師
伊藤喜子（ライカマイクロシステムズ株式会社、シニアアプリケーションスペシャリスト）
長澤忠広（ライカマイクロシステムズ株式会社、シニアアプリケーションスペシャリスト）
石原あゆみ（ライカマイクロシステムズ株式会社、アプリケーションスペシャリスト）

自分では「見えている」と思っていたものが、なんと過剰なエッチング等によるアーティファクトも含むものだったということが判明しました。ライカの専任スタッフの方に指摘されて初めて気がついたんです。知識を身につけ根気よく挑戦し続けることで、感動的な成果を得ることが出来ました。ライカのみなさまには、時には厳しくも的確なアドバイスをいただきつつ、これからも私たちの研究をサポートしていただきたいと思います。

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各プロセスごとにサブミクロン、ナノレベルの高い精度が求められる電子顕微鏡用試料作製プロセスには、
シームレスなワークフローが必要不可欠です。
あらゆる試料作製ニーズにお応えする製品ランナップの中から、最適な一台をお選びください。

※SEM：走査電子顕微鏡法、TEM：透過電子顕微鏡法、Cryo （FIB） SEM法：クライオ走査電子顕微鏡、Cryo TEM：クライオ透過電子顕微鏡法、AFM法：原子間力顕微鏡法