- 内容
表面加工品、電子材料部品、複合材料、各種素材、原料等の工業材料を対象とした「試料作製・観察ワークショップ」を大阪で開催いたします。
試料の作製方法から顕微鏡観察、画像処理アプリケーションをご紹介!
作製したい試料をご持参いただき、ご自身の試料で評価いただけます。
- 使用機器
回転式ミクロトーム:NANOCUT 薄いフィルム状の試料や樹脂系の柔らかい試料作製、SEMやXRDによる断面観察、薄膜試料片での赤外吸収測定に
ターゲット断面作製装置
EM TXP
ミクロトームの操作性で機械研磨できる、
ターゲット断面作製システムで、短時間で確実に
試料調整。ミリング前の切断・研磨にも最適. ※4月16日のみ顕微LIBS 元素分析システム DM6 M-LIBS
大気圧下、前処理なく、観察後すぐに元素分析が可能。従来の手法に比べて、化学分析時間を 90% 節減。
三次元表面形状解析 DCM8 コンフォーカル顕微鏡と白色干渉計のメリットを融合。様々な表面形状解析を1台で、高精度、高速に実現。
デジタルマイクロスコープ DVM6 マイクロスコープこそ、高い光学性能。キレイな画質で見落としなし
その他、観察用に金属顕微鏡、蛍光観察対応実体顕微鏡なども体験いただけます。
- 場所および日時
日時:
4/ 16 ( 火 ) 9:30 ~ 18:00
4/ 17 ( 水 ) 9:30 ~ 18:00
4/ 18 ( 木 ) 9:30 ~ 14:00場所:
ハートンホテル北梅田 2F
大阪市北区豊崎3丁目12番10号※すべての日程において、予約制となっております。EM TXPを評価希望の方は4月16日のみとなっております。
- お申込み
本ワークショップのお申込みは、下記リンク先申し込みフォームあるいは、「ワークショップチラシ」をダウンロードいただき、裏面記入のうえ、メールあるいはFAXにてお申込みください。
①Web申し込み
②FAX申し込み(チラシのダウンロード)
https://www2.leica-microsystems.com/osakaws_201904
お申し込み先: FAX(03-5155-4336)またはメール(LMC@leica-microsystems.co.jp)
- お問い合わせ
ご不明点などありましたら下記お問合せフォームにて必要事項をご記入の上お問い合わせ下さい。