- セミナー概要
表面加工品、電子材料部品、複合材料、各種素材、原料等の工業材料を対象とした「試料作製・観察ワークショップ」を東京で開催いたします。試料の作製方法から顕微鏡観察、画像処理アプリケーションをご紹介!ご自身の試料をご持参いただければ、その試料での試料作製や観察・測定のデモもいたします。
- 日時
2024年12月3日(火)~12月5日(木)
9:30~17:30
1組 2時間 予約制
- 評価対象機種
試料の作製方法から顕微鏡観察・画像処理まで、ご興味のある評価対象の機種を選択いただきます。
詳しくはこちら
- こんな方に最適
以下のような課題をお持ちの方
● 異物解析・品質管理・新規素材開発などをおこなっていて、拡大観察の試料前処理効率をアップしたい
● サンプルの採取、試料切片や断面の作製にてこずっている
● 高倍率観察時、一部にしかピントが合わず、全体を鮮明に観察することができない
● 顕微鏡、画像解析の最新製品を知らない対象分野
● 自動車・自動車部品
● エレクトロニクス・電子部品
● 素材・化学・食品・化粧品
● 鉄鋼・金属・鉱業
● 通信・光ファイバー・電線
● 半導体・基板※セミナーは装置をご利用、導入検討されるエンドユーザーの方となります。競合他社様・代理店様につきましては、お断りさせていただくことがございますので、予めご了承ください。
- 会場
ライカ マイクロシステムズ株式会社 東京本社1F 体験ラボ
〒169-0075 東京都新宿区高田馬場1-29-9
[JR・西武新宿線]高田馬場駅 戸山口から徒歩 約2分
[地下鉄東西線]高田馬場駅 5番出口から徒歩 約5分
- お申込み方法
お申込みは、下記リンク先申し込みフォームに必要事項を入力いただき、送信ください。後ほど担当者よりメールにて連絡させていただきます。
Web申し込み https://forms.office.com/r/Z5exTPZdDB
上記フォームからお申込みできない場合、メール(LMC@leica-microsystems.co.jp) にてご連絡ください。
- 特記事項
・ 新規で装置をご検討中のお客様を優先的にご案内させていただきます。既存のお客様には、別途プログラムをご案内いたしております。
・ 受付後、ミクロトームご評価についてはライカの技術担当者より、評価内容確認のためメールまたはお電話させていただくことがあります。
・ 当日は10分前から受付となります。