サイドビューシステム

斜めや真横から観察ができるシステムです。

【特徴】

• 傾斜がある対象物や、真上からの観察では観察できない対象物をそのまま観察
• ライカの高い光学性能により、クリアな見えとピント合わせが最小限に
• PCレスで撮影や測定も可能
• ニーズに合わせて顕微鏡選択（実体顕微鏡あるいはデジタルマイクロスコープ）
• 通常の真上からの観察も可能