製品カタログ
電子顕微鏡試料作製装置
イオンミリング装置
ライカ EM TIC3X
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走査型電子顕微鏡(SEM)、微細構造分析(EDS、WDS、オージェ、EBSD)やAFM測定のための断面作製装置です。旧機種からの特長である3本のイオンビーム(個別に制御可能)に加え、冷却ステージ、マルチサンプルステージなど新機能を搭載。試料を高速かつ広く深くミリングを行い、高品質な断面を作製します。
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電子顕微鏡試料作製装置
走査型電子顕微鏡(SEM)、微細構造分析(EDS、WDS、オージェ、EBSD)やAFM測定のための断面作製装置です。旧機種からの特長である3本のイオンビーム(個別に制御可能)に加え、冷却ステージ、マルチサンプルステージなど新機能を搭載。試料を高速かつ広く深くミリングを行い、高品質な断面を作製します。
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