【Bruker x Leica】高分子ナノ分析・評価技術の最前線ウェビナー

高分子は、さまざまな分野で私たちの日常生活に密接に関わっています。先進の研究により開発された多様な素材は、その特性を活かして従来の化学工業のみならず、医療や福祉、電子・食品産業に至るまでの幅広い分野で応用が進んでいます。高分子の市場規模は今後も拡大し、その重要性はますます高まっていくことが見込まれます。本セミナーでは、多種多様な高分子材料をナノレベルから理解していくことを可能とする原子間力顕微鏡（AFM）と、AFMでの観察試料を作製するために有用なウルトラミクロトームについて、分析・評価技術の実例を交えて最新技術をご紹介します。

2024年8月2日(金)　13:30～14:45

①高分子研究におけるAFM技術の多様性と可能性
　ブルカージャパン株式会社　ナノ表面計測事業部　横川 雅俊

原子間力顕微鏡（AFM）は、高い空間分解能で対象の表面形状・機械特性・電気特性などを分析するユニークな顕微鏡です。こうしたAFM技術の新たな潮流の一つにAFM-IRがあります。AFM-IRは、回折限界の壁を超え10 nmに迫る分解能でIRイメージとスペクトルを得る革新的な技術です。この高いIR性能に加え、材料のナノ表面粘弾性特性や熱特性測定による総合的な材料評価により、多種多様な高分子材料をナノレベルから理解していくことが可能となります。発表ではこうした最新のAFM技術を紹介します。

②新型ウルトラミクロトーム UC Enuity の特徴および新機能
　ライカマイクロシステムズ株式会社　 田原 知浩

ライカマイクロシステムズの新世代ウルトラミクロトーム UC Enuityが誕生しました。UC Enuityは、自動セットアップ機能によりさまざまなレベルの専門知識を持つユーザーの試料作製をより効率的に、より身近に、より正確にアシストし、ユーザーの貴重な時間とリソースの節約します。また、拡張性が大きいため、μCTや蛍光などの先進的な機能をシームレスにアップグレードし幅広いニーズに対応することが可能です。これらのUC Enuityの新機能や特徴を紹介させていただきます。

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