- 開催概要
断面解析、故障解析に向けた装置に関するセミナーです。光学顕微鏡の基礎、装置の特長から最新のアプリケーションまで座学でご紹介した後、実機でのファンクションデモを数人のグループごとにご覧いただきます。ライカ本社エクスペリエンスラボ(東京高田馬場)にて開催、参加無料です!
1.ライカの「断面作製、顕微鏡観察、元素分析」装置と最新のアプリケーション (座学 30分×3テーマ)
2.実機による「断面作製、顕微鏡観察、元素分析」のファンクションデモ (40分×3テーマ)
3.Q&A
主に紹介する製品・ソリューションライカ 工業用回転式ミクロトーム RM2265
・試料を最小0.25μmの設定厚みでナイフ切削して、断面作製します。
・高分子フィルムや樹脂成形品、塗膜などの断面作製や異物の顕微IR分析用の切片作製に最適。ライカ 金属・偏光顕微鏡 DM2700 M/P
・鉱物の種類や結晶観察ではおなじみの偏光顕微鏡は高分子素材の観察にも最適。
・偏光顕微鏡の基礎から、残留応力や球晶、地質・地球環境などの観察・物性研究での、アプリケーションをご紹介ライカ 拡大観察・イメージングと元素分析装置 DM6 M LIBS
・異物などの微小分析対象を光学顕微鏡観察で確認後、ワンクリックで元素を定性分析。
・SEM-EDXなどの従来の方法と比較して、微小部分析の定性分析に要する工数と時間を大幅に削減できます。製造現場などでの多量のスクリーニング分析に!
- 対象者
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複合材料、樹脂製品、実装部品の試作品、他社製品、不具合製品の解析に携わる方
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光学顕微鏡、SEM、FT-IRなどの断面解析に対し、断面作製で困っている。(断面作製が難しい、断面作製の生産性を上げたいなど。)
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樹脂成形品の樹脂流れや結晶化樹脂の球晶観察で困っている。
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異物分析や局所分析の定性分析の効率をアップしたい。
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- 講師
ライカ マイクロシステムズ株式会社
・バイオシステムズ事業本部 杉山 知之
・インダストリー事業部 和田 健太郎
・インダストリー事業部 森下 達治
- 開催日程
9月12日(水) 13:00~17:00
- 開催場所
ライカマイクシステムズ 東京本社 1F エクスペリエンスラボ
http://xlab.leica-microsystems.com/access/
- お申し込み
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受付状況 日時 定員 参加費 お支払い
方法受付終了 不良解析に向けた「断面作製、顕微鏡観察、元素分析」セミナー
2018年09月12日 (水) 13:00 - 17:0012名 無料
- お問い合わせ
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※本日程でのご参加が難しい方へは、次回の開催日程等をお知らせできる場合がございます。ぜひご連絡ください。