- 開催概要
鉱物の種類や結晶観察でおなじみの偏光顕微鏡は高分子素材の観察にも最適です。原理、操作が複雑に見えがちですが、残留応力や球晶、地質・地球環境など広く応用が可能です。偏光顕微鏡の基礎、装置の特長から、リタデーション測定、残留応力や球晶、地質・地球環境などの観察・物性研究での応用事例まで、座学と実機でのファンクションデモでご紹介いたします。当セミナーではさらに薄いフィルム上の試料や樹脂系の柔らかい試料の試料加工に最適なミクロトームもご紹介。
日頃の皆様のお仕事の中にある疑問やお困りの点について、解決のヒントが多数含まれた内容となっております。ライカ本社エクスペリエンスラボ(東京高田馬場)にて開催、参加無料です!
1.偏光顕微鏡の基本(座学 45分)
2.工業用ミクロトームの基本(座学 45分)
3.実機によるファンクションデモ (60分 x 2:グループ単位)
4.質疑応答
回転式ミクロトームで試料作製し、偏光顕微鏡で観察した事例
樹脂溶着 樹脂球晶 主に紹介する製品・ソリューション
ライカ 金属・偏光顕微鏡 DM2700 M/P
・鉱物の種類や結晶観察ではおなじみの偏光顕微鏡は高分子素材の観察にも最適。
・偏光顕微鏡の基礎から、残留応力や球晶、地質・地球環境などの観察・物性研究での、アプリケーションご紹介。
・リタデーション測定ライカ 工業用回転式ミクロトーム Autocut
・試料を最小0.25μmの設定厚みでナイフ切削して、断面作製します。
・高分子フィルムや樹脂成形品、塗膜などの断面作製や異物の顕微IR分析用の切片作製に最適。
- 対象者
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複合材料、樹脂製品、実装部品の試作品、他社製品、不具合製品の解析に携わる方
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樹脂成形品の樹脂流れや結晶化樹脂の球晶観察で困っている方
- 光学顕微鏡、SEM、FT-IRなどの断面解析に対し、断面作製で困っている。(断面作製が難しい、断面作製の生産性を上げたいなど。)
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- 講師
ライカ マイクロシステムズ株式会社
・インダストリー事業部 和田 健太郎・バイオシステムズ事業本部 杉山 知之
- 開催日程
11月7日(水) 13:00~17:00
- 開催場所
ライカマイクシステムズ 東京本社 1F エクスペリエンスラボ
http://xlab.leica-microsystems.com/access/
- お申し込み
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お申込みは下記「受付中」ボタンを押した後の会員登録画面から、お申込みください。 ※各社・施設で複数名ご参加の場合は、代表者の方お申込みのうえ、【備考】に参加される方全員のお名前記入をお願いいたします。
受付状況 日時 定員 参加費 お支払い
方法受付終了 偏光顕微鏡の基礎知識と高分子化学や液晶への応用
2018年11月07日 (水) 13:00 - 17:0012名 無料
- お問い合わせ
不明な点やご質問などがありましたら、下記のお問合わせボタンよりご連絡をお願い致します。
※本日程でのご参加が難しい方へは、次回の開催日程等をお知らせできる場合がございます。ぜひご連絡ください。