- 内容
表面加工品、電子材料部品、複合材料、各種素材、原料等の工業材料を対象とした「試料作製・観察ワークショップ」を東京体験ラボで開催いたします。
試料の作製方法から顕微鏡観察、画像処理アプリケーションをご紹介!
作製したい試料をご持参いただき、ご自身の試料で評価いただけます。
- 使用機器
回転式ミクロトーム Nanocut R
薄いフィルム状の試料や樹脂系の柔らかい試料作製、SEMやXRDによる断面観察、薄膜試料片での赤外吸収測定に
ターゲット断面作製装置
EM TXP
ミクロトームの操作性で機械研磨できる、
ターゲット断面作製システムで、短時間で確実に
試料調整。ミリング前の切断・研磨にも最適.顕微LIBS 元素分析システム DM6 M-LIBS
大気圧下、前処理なく、観察後すぐに元素分析が可能。従来の手法に比べて、化学分析時間を 90% 節減。
共焦点レーザー顕微鏡 TCS SP8 製紙、フィルム、グリース中の増ちょう剤など、非破壊・非接触、前処理不要で形状分布や微細構造を蛍光観察。濃度の比較まで可能。
デジタルマイクロスコープ DVM6 マイクロスコープこそ、高い光学性能。キレイな画質で見落としなし
その他、観察用に金属顕微鏡、蛍光観察対応実体顕微鏡なども体験いただけます。
- 場所および日時
日時:
12/ 3 (火) 9:30 ~ 18:00
12/ 4(水) 9:30 ~ 18:00
12/ 5 (木) 9:30 ~ 18:00場所:
ライカ マイクロシステムズ東京本社1F 会場アクセスはこちら
東京都新宿区高田馬場1-29-9
※すべての日程において、予約制となっております。
- お申込み
本ワークショップのお申込みは、下記リンク先申し込みフォームあるいは、「ワークショップチラシ」をダウンロードいただき、裏面記入のうえ、メールあるいはFAXにてお申込みください。
①Web申し込み
②FAX申し込み(チラシのダウンロード)
https://www2.leica-microsystems.com/l/149501/2019-09-02/4f2chg/149501/97061/ssptok201912.pdf
お申し込み先: FAX(03-5155-4336)またはメール(LMC@leica-microsystems.co.jp)
- お問い合わせ
ご不明点などありましたら下記お問合せフォームにて必要事項をご記入の上お問い合わせ下さい。