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イオンミリング装置　
ライカ EM TIC3X

走査型電子顕微鏡（SEM）、微細構造分析（EDS、WDS、オージェ、EBSD）やAFM測定のための断面作製装置です。旧機種からの特長である3本のイオンビーム（個別に制御可能）に加え、冷却ステージ、マルチサンプルステージな…

ターゲット断面試料作製装置　
ライカ EM TXP

SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置。

実体顕微鏡
ライカ EZ4／EZ4 W／EZ4 E

ライカ EZ4 WはHDデジタルカメラとLED照明を内蔵したオールインワンの実体顕微鏡です。ズーム比4.4の光学系は、最低倍率8倍から最大倍率35倍まで、広範囲の拡大観察及び画像取得を可能にします。WIFI接続も可能です…

アクセス

アクセス エクスペリエンスラボは、ライカ マイクロシステムズ東京本社の1Fにあります。 東京本社 〒169-0075 東京都新宿区高田馬場1-29-9 ライカ マイクロシステムズ東京本社1F Tel： 03-6758-5…

高真空コーティング装置
ライカ EM ACE600 カタログ

FE-SEMとTEMのアプリケーション向けに、各種金属やカーボンへの熱ダメージを最小限に抑えながら、非常に薄く均質で導電性のカーボン膜を成膜することが出来ます。ライカ EM VCT100 真空クライオ・トランスファーシス…

個人情報保護方針

個人情報保護方針 ライカマイクロシステムズ株式会社は、顧客情報をはじめとする個人情報を保有しており、その重要性を認識し、適切な取扱を徹底することが、当社の社会的義務であると考えております。よって、ここに以下の個人情報保護…

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