2014/12/17 14:27 - 2030/01/01 00:00
ターゲット断面試料作製装置 ライカ EM TXP
概要
SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置。
開催日程
- 2014/12/17 14:27 - 2030/01/01 00:00
申し込み期間
- 2025/10/17 12:28 - 2030/01/01 00:00
SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置。