20μm以上の微小粒子を画像処理により自動選別。更に、選別された任意の微小粒子の位置へ自動移動。
その後、3次元観察にてピックアップを手助けするシステムです。

用途：

製造工程で混入する異物の微量サンプリング
顕微IR／FIB-SEM／TEMの分析試料準備
大型成型品の局所サンプリング
局所マーキングなどに最適