
2020/05/23 20:21 - 2030/01/01 00:00
比較解析と文書化用 デジタルレチクル LAS X Reticle
概要
LAS X Reticleは、PCのモニターに表示されたカメラ画像にグリッドまたは参照オーバーレイを直接投影します。様々な国際規格に準拠したフェーズ解析、結晶粒度解析、鋼の非金属介在物評価のための特定のソリューションを含む50以上のデジタルレチクルファイルを提供、またユーザー定義のレチクルを使用することも可能です。
開催日程
- 2020/05/23 20:21 - 2030/01/01 00:00
申し込み期間
- 2025/10/17 12:40 - 2030/01/01 00:00