2025年度(令和7年度)第30回・第31回 ABiS電子顕微鏡トレーニング

「高圧凍結法・Waffle Method」
「電子顕微鏡三次元再構成法・SEM Array Stacking / TEM Tomography」

第30回・第31回 ABiS電子顕微鏡トレーニングを実施します。皆様のご参加を心よりお待ちしております。

 

開催概要

開催日時 第30回 高圧凍結法・Waffle Method : 2026年1月30日(金)
第31回 SEM Array Stacking / TEM Tomography : 2026年1月28日(水)・29日(木)
会  場 兵庫県立大学 播磨理学キャンパス 研究2期棟
お申し込み方法 本ページの必要事項をご確認の上、以下のお申し込みフォームよりお申込みください。

※詳細はページ中頃の開催情報をご確認ください

 

 

 

トレーニング概要

第30回「高圧凍結法・Waffle Method」

組織・細胞など複雑で厚みのある生体試料の非晶質凍結法として「高圧凍結Waffle Method」が用いられるようになりました(詳細は、 https://www.leica-microsystems.com/science-lab/life-science/the-waffle-method-high-pressure-freeze-complex-samples をご確認ください)。
試料を、200メッシュの金厚膜カーボングリッドに配置して、このグリッドを非常に良く研磨された2枚の試料キャリアで挟んだ状態で高圧凍結します(下図参照)。

 


 

高圧凍結では、通常、平板試料キャリアの形状により厚さ200µm程度のディスク状に試料がガラス化されます。Waffle Methodでは、EMグリッドがスペーサーとなることから、試料の厚さを約20~30µmに薄くすることができます。その結果、凍結試料ラメラを作製する際、Cryo-FIB Millingする体積を大幅に小さくできる利点があります。
試料キャリアは、高圧凍結用の平板試料キャリア・タイプB(Cu/Au 6 mm、Type B 0.3 mmキャビティ)、またはメンブレンキャリアを用いることができます。

 

第31回「電子顕微鏡三次元再構成法・SEM Array Stacking / TEM Tomography」

SEM Array Stackingのための連続リボン状超薄切片作製から、SEMを用いた連続切片の画像取得、および三次元構造の再構成法までのトレーニングを行います。今回は、参加者の持込試料(樹脂包埋した試料、連続超薄切片、連続断層画像データなど)について、事前相談の上、トレーニング用の試料としてプレリミナリーな観察または解析が、可能な場合があります。
試料の持ち込みを希望する場合は、申し込みの際に備考欄に記載して下さい。また、SEM Array Stackingの他に、超薄切片の電子顕微鏡像からの三次元再構成法にはTEM Tomographyがあります。それぞれSEMとTEMを使用した三次元再構成法の違いや特徴などについても、実際に確認し、議論したいと考えています。

 

Leica ARTOS 3D
Leica ARTOS 3D
JEOL JSM IT-800
JEOL JSM IT-800

 

 

開催日程・トレーニングスケジュール

第31回 SEM Array Stacking / TEM Tomography : 2026年1月28日(水)

9:50 受付(相生駅南口9:10発のバスをご利用ください)
10:00–11:00 講義1 : ARTOS 3D/UC Enuityを用いた連続切片作製法 (伊藤喜子)
11:00–13:00 実習1 : ウルトラミクロトームによる超薄切片作製
13:00–14:00 昼休み
14:00–16:00 実習2 : ARTOS 3D/UC Enuityを用いたリボン状連続超薄切片作製
16:00–16:30 まとめ・総合討論

第31回 SEM Array Stacking / TEM Tomography : 2026年1月29日(木)

9:50 受付(相生駅南口9:10発のバスをご利用ください)
10:00–11:00 講義2 : TEM Tomography & SEM Array Stacking (古河弘光)
11:00–13:00 実習3 : JSM-IT800を用いた連続断層画像撮影
13:00–14:00 昼休み
14:00–16:00 実習4 : 連続断層画像からの三次元再構成
16:00–16:30 まとめ・総合討論

第30回 高圧凍結法・Waffle Method : 2026年1月30日(金)

9:50 受付(相生駅南口9:10発のバスをご利用ください)
10:00–11:00 講義 : 高圧凍結法・Waffle Method (伊藤喜子)
11:00–16:00 実習 : 高圧凍結法・Waffle Method
実習中に適宜昼休み
16:00–16:30 質疑応答・まとめ

※トレーニングは2コース / 3日間となっていますが、どちらか1つのコースのみの参加や1日間だけの 参加でも問題ありません。その場合、備考欄に参加トレーニングコース、参加日時等を明記して下さい。

 

 

開催場所

兵庫県立大学 播磨理学キャンパス 研究2期棟

〒678-1205 兵庫県赤穂郡上郡町光都3-1-2
※JR山陽線/山陽新幹線・相生駅南口より ウイング神姫「SPring-8」行きバス に乗車し「県立大理学部前」バス停(所要時間約22分)にて下車 徒歩3分

 

MAP

 

受講対象

  • 高圧凍結法/Waffle Method、クライオSEM観察に興味のある方
  • ウルトラミクロトームを用いた超薄切片作製法をマスターしている方
  • ARTOS 3D/UC Enuityを用いた連続リボン状超薄切片の作製を学びたい方
  • SEM Array Stacking、TEM Tomographyによる三次元再構成法に興味のある方
  • 研究・開発・評価などの仕事でクライオ電子顕微鏡法に従事している方

 

 

主な使用装置

 

第30回「高圧凍結法・Waffle Method」

  • 高圧凍結装置 EM HPM100(ライカマイクロシステムズ):現行モデル EM ICE
 

第31回 SEM Array Stacking / TEM Tomography

  • ARTOS 3D (ライカマイクロシステムズ)
  • UC Enuity (ライカマイクロシステムズ)
  • EM RAPID (ライカマイクロシステムズ)
  • 走査電子顕微鏡JSM-IT800 (日本電子)
 

SEM観察・三次元再構成に使用するソフトウエア

  • SEM Supporter (システムインフロンティア):SEM観察・連続断層画像取得
  • Stack ’n' Viz (システムインフロンティア):連続断層画像の三次元再構成・可視化
  • Colorist (システムインフロンティア):セグメンテーションおよびカラーリングによる解析

 

 

主催

学術変革領域研究(学術研究支援基盤形成)先端バイオイメージング支援プラットフォーム
公益社団法人日本顕微鏡学会 生体解析分科会
株式会社システムインフロンティア
ライカマイクロシステムズ株式会社
兵庫県立大学大学院理学研究科

 

 

講師

伊藤喜子(ライカマイクロシステムズ株式会社)
古河弘光・清水美代子・中小原順一(株式会社システムインフロンティア)
西野有里、宮澤淳夫(兵庫県立大学大学院理学研究科)

 

定員

電子顕微鏡トレーニング10名(科研費採択者またはその関係者5名程度を含む)

 

 

参加費

日本顕微鏡学会・会員:11,000円(税込)
日本顕微鏡学会・非会員:22,000円(税込)

※トレーニング会場受付にて、現金でお支払いください。日本顕微鏡学会の領収書をお渡しいたします。

第30回と第31回のどちらか一方、または両方のトレーニングに参加されても参加費は同額です。

※科研費採択者の関係者(学生)は無料となる場合がありますので、お申し込みの際にご連絡ください。

 

 

申し込み締切/方法

締切:2026年1月20日(火)

申込方法:必要事項をご確認の上、以下のお申し込みフォームよりお申込みください。

 

 

※申込時に役職の明記をお願いします。学生の場合は役職欄に学年の記載をお願いします。

※科研費採択者および関係者は、申し込みの際に備考欄に下記について記入をお願いします。

・科研費採択情報(種目、課題名、研究期間、研究代表者)

・ご自身が科研費に採択されていないポスドク・大学院生等は、指導教員の科研費採択情報

※持込試料の希望について、電子顕微鏡トレーニング用の試料として調製し、プレリミナリーな観察で良ければ対応可能な場合があります。試料の持込を希望する場合は、電子顕微鏡トレーニングに参加申し込みをする際に、備考欄に持込試料について記載して下さい。

 

 

その他

※申し込み後、トレーニングに関する電話連絡をすることがあります。

※定員になり次第、申し込みは締め切りとなりますのでご了承ください。

※トレーニングの様子を撮影することがあります。予めご了承ください。

2025/12/26 16:48

2025年度(令和7年度)第30回・第31回 ABiS電子顕微鏡トレーニング